冷熱沖擊試驗箱是針對電工、電子產(chǎn)品整機及零部件進行耐寒試驗、溫度快速變化或漸變條件下的適應性試驗箱,特別適用于進行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應力篩選(ESS)試驗。
產(chǎn)品分類
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(1) 、高溫儲存室:中央控制器從感溫元件檢測即時信號,與設定溫度信號進行比較,得到比較信號,由儀表 PID 邏輯電路輸出信號控制固態(tài)繼電器的導通或關(guān)斷的時間比例調(diào)節(jié)加熱器輸出功率大小,從而達到自動控溫的目的。
(2) 、低溫儲存室:箱內(nèi)溫度狀態(tài)由風道中的加熱器、蒸發(fā)器以及風機的運作狀態(tài)決定。經(jīng)過膨脹閥節(jié)流流出的制冷劑進入運作室內(nèi)蒸發(fā)器后,吸收運作室內(nèi)熱量并氣化,使運作室溫度降低 ; 氣化后的工質(zhì)被壓縮機吸入并壓縮成高溫、高壓氣體進入冷凝器中被冷凝成液體,再經(jīng)篩檢程式,通過膨脹閥節(jié)流后,重新又進入運作室內(nèi)蒸發(fā)器中吸熱并氣化然后再被壓縮機吸入壓縮。如此往復回圈運作,使運作室溫度降到設置的溫度要求
(3) 、沖擊溫度測試室:由儀表自動控制高低溫氣閥,在低溫或高溫儲存室之間切換,分別與高溫箱或低溫箱形成閉路空氣循環(huán)系統(tǒng),迅速達到試驗的目標溫度。 試驗箱內(nèi)溫度狀態(tài)由風道中的加熱器、蒸發(fā)器、及風機的運作狀態(tài)決定。試驗箱運作室內(nèi)采用強制軸流“散性"式回圈風運作,可以大大提高設備運行的波動度、均勻度等參數(shù)。
冷熱沖擊試驗箱主要配置:
①內(nèi)箱采用SUS#304不銹鋼板,外箱采用SEEC鋼板外加靜電噴涂或不銹鋼拉絲板,增加外觀質(zhì)感和潔凈度,造型美觀大方;
②箱體保溫層采用高強度PU及保溫棉,達到優(yōu)良的保溫效果;
③箱體配備直徑50mm的測試孔,可供外接測試電源線或信號線使用,孔徑及孔數(shù)可以依客戶要求制作;
④機器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動腳輪,方便移動;
⑤可獨立設立高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件,具備高低溫試驗機的功能;
⑥可在預約開機時間控制中自動提前預熱、預冷待機,并可選擇起始位置,由高溫或低溫開始循環(huán)或沖擊,具備設定循環(huán)次數(shù)及自動除霜等功能;
⑦具備全自動,高精密系統(tǒng)回路,任一機件動作,由P.L.C鎖定處理,溫度控制精度高,全部采用PID自動演算控制;
⑧出風口與回風口由傳感器控制,風向柵門機構(gòu)切換時間在10秒內(nèi)完成,冷熱沖擊溫度恢復時間在5分鐘內(nèi)完成;
北京冷熱沖擊試驗箱廠家技術(shù)性能:
1、高溫儲熱范圍:+60℃·+200℃
2、低溫儲冷范圍:-10℃~-55℃(A型) , -10℃~-65 ℃(B型) ,-10℃~-75℃(C型)
3、試驗范圍:
高溫:+60℃~+150℃
低溫:-10℃~-40℃(A型);-10℃~-55℃(B型);-10~-60℃(C型)
4、升溫時間:+60℃~+200℃約需25min
5、降溫時間:+20℃~-55℃小于60min;+20℃~-65℃小于75min;+20℃~-75℃小于90min;
6、風門切換時間:小于或等于10S
7、溫度恢復時間:5min
8、溫度波動:±0.5℃
9、溫度偏差:±2℃
規(guī)格尺寸:
型號 | BY-260D | ||||||
63 | 100 | 120 | 225 | 500 | 1000 | ||
測試區(qū)尺寸 | W | 40 | 50 | 60 | 50 | 80 | 100 |
D | 35 | 40 | 50 | 60 | 80 | 100 | |
H | 35 | 40 | 50 | 75 | 80 | 100 | |
外箱尺寸(約) | W | 150 | 160 | 170 | 180 | 260 | 280 |
D | 145 | 150 | 160 | 180 | 190 | 200 | |
H | 190 | 200 | 200 | 200 | 200 | 220 |
安全裝置:超溫保護、漏電保護、缺水保護(水冷式)、壓縮機超壓過載過電流保護
電源:AC 220/380V(1+10%)V 50+0.5HZ 三相四線+保護地線。
冷熱沖擊試驗箱和高低溫試驗箱的區(qū)別:
這兩種試驗箱都是給產(chǎn)品做高低溫的試驗。但是他們有一個根本的區(qū)別是高低溫試驗箱是看產(chǎn)品在降溫的過程中感測到產(chǎn)品的變化。而冷熱沖擊試驗箱就沒有這個降溫過程,它是使產(chǎn)品瞬間的感測到溫度的變化而變化的.
高低溫試驗箱用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲存、運輸和使用時的適應性試驗,以及溫度漸變試驗。還可以對電子元器件進行應力篩選試驗。