調(diào)溫調(diào)濕試驗(yàn)箱又稱恒溫恒濕試驗(yàn)箱，溫濕度試驗(yàn)箱，高低溫濕熱試驗(yàn)箱。該設(shè)備適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件，在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)的檢驗(yàn)。

天津調(diào)溫調(diào)濕試驗(yàn)箱控制部分設(shè)計(jì)在設(shè)備的右側(cè)，分布有溫控儀、控制開關(guān)等，操作方便，簡單，易于維護(hù)。

圓弧型設(shè)計(jì)，線條流暢自然，表面噴塑處理，高質(zhì)感外觀，更顯潔凈美觀。

箱體外殼采用優(yōu)質(zhì)A3鋼板數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，外殼表面進(jìn)行噴塑處理。

箱體內(nèi)膽采用高級(SUS304)不銹鋼板，室內(nèi)的樣品架及其它附件配件均為SUS304不銹鋼材料制作。

保溫材質(zhì)選用高密度玻璃纖維棉，保溫棉厚度為100mm/120mm。

觀察窗采用多層中空鋼化玻璃，內(nèi)設(shè)照明燈，內(nèi)側(cè)膠合片式導(dǎo)電膜加熱除霜清楚觀察試驗(yàn)過程。

溫度循環(huán)系統(tǒng)采用耐溫低噪音空調(diào)型風(fēng)扇電機(jī)，耐高低溫多葉式離心風(fēng)輪，以達(dá)強(qiáng)度對流垂直擴(kuò)散循環(huán)。

門與箱體之間采用雙層耐高溫高漲性密封條以確保測試區(qū)的密閉，采用無反作用門把手，操作更容易。

箱體左側(cè)配Φ25mm或Φ50mm或Φ100mm測試孔一個(gè)，可供外接測試電源線或信號線使用(孔徑或孔數(shù)增加需說明)。

水路系統(tǒng)和電路系統(tǒng)采用側(cè)門式開啟，方便維護(hù)和檢修。

設(shè)備底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪，方便客戶將設(shè)備移動(dòng)到位置，然后將腳輪固定。

天津調(diào)溫調(diào)濕試驗(yàn)箱性能技術(shù)參數(shù)：

①控制方式與特色：采用【平衡調(diào)溫調(diào)濕】控制方式，以PID方式控制SSR，搭配特殊設(shè)計(jì)的風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，使系統(tǒng)之加熱加濕量等于濕熱耗損量，故能長期穩(wěn)定的使用。

②在無試驗(yàn)負(fù)荷、無層架情況下穩(wěn)定兩小時(shí)后測定的性能。另外，關(guān)于溫度上升及下降速率是指風(fēng)冷式在室溫+25℃，空載時(shí)的性能。

獨(dú)立的加溫與制冷系統(tǒng)使設(shè)備更有效的升溫、降溫，制冷系統(tǒng)為全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。

采用多翼式強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。

空氣循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回溫時(shí)間快。

*"TEMI880"可編程溫濕度控制儀(5.7英寸16位真彩觸摸屏)；中文式菜單操作方式，內(nèi)存程序組120組，每程序組含程序段1200段

溫度傳感器：鉑金電阻PT100Ω/MV

循環(huán)系統(tǒng)：耐溫低噪音型電機(jī)，加長軸、不銹鋼多葉式離心風(fēng)葉

供水方式：采用電子液位控制器自動(dòng)控制.且可回收余水.帶缺水報(bào)警

加濕方式：外置隔離式，全不銹鋼電熱式蒸汽發(fā)生加濕方式

除濕方式：采用凝露法蒸發(fā)器盤管露點(diǎn)溫度層流接觸除濕方式

加熱方式：鎳鉻合金電加熱式加熱器

還有一些人性化的配置：比如：箱門中央安裝了一面透明的玻璃窗口，可以方便操作員隨時(shí)了解查看箱內(nèi)試驗(yàn)情況；箱體左側(cè)安裝了一個(gè)直徑50mm的不銹鋼測試孔，方便操作員外接測試電源線或信號線使用；工作室內(nèi)部配有置物架兩塊，方便用戶合理使用測試空間。

溫度范圍：-70℃~150℃（波動(dòng)度：±0.5℃；均勻度：≤2.0℃）

濕度范圍：20~98%RH（波動(dòng)度：±2.5%RH；均勻度：≤3.0%RH）

升溫時(shí)間：每分鐘平均約3.0℃

降溫時(shí)間：每分鐘平均約1.0℃

◆設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.1-2001：電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程|試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-2001：電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程|試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.3-2006：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法|試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

GB2424.1-89：電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程|高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

GB/T2324.2-1989.GB/T2423.1-1989.GB/T2423.4-1993等國家標(biāo)準(zhǔn)